近日，中科院紫金山天文臺(以下簡稱紫金山天文臺)的研究人員提出了一種利用多次曝光的星系圖像來限制點擴散函數(shù)(PSF)的新方法。相關研究成果在線發(fā)表于《皇家天文學會月報》。
弱引力透鏡效應是遙遠天體(背景星系)發(fā)出的光線在傳播路徑中受到引力質量偏折后，使觀測到的背景星系圖像發(fā)生微弱形變的一種天文現(xiàn)象。研究人員在開展實際觀測中發(fā)現(xiàn)，星系圖像會受到各種因素的影響，其中PSF是影響弱透鏡信號測量精度的最大干擾因素之一。由于弱引力透鏡信號是比較微弱的一種信號，多數(shù)隱藏在噪聲之下，PSF的測量精度直接影響了弱引力透鏡信號的精確測量。
提高PSF測量精度成了弱引力透鏡研究人員一直以來追求的目標。紫金山天文臺博士研究生聶麟和研究員李國亮等人提出了一種新的PSF測量方法：光滑基函數(shù)主成分分析法(SPCA/iSPCA)。與傳統(tǒng)方法相比，該方法實現(xiàn)了更高精度的PSF測量，進一步改善了研究人員對弱引力透鏡信號的提取。相關研究成果此前在線發(fā)表于《皇家天文學會月報》。
聶麟和李國亮等人近期提出的新方法，則延續(xù)了之前的研究。PSF一般是由測量點源(比如恒星)獲得，而新方法能利用多次曝光的展源圖像(比如星系圖像)來進一步限制PSF。這對于點源比較稀疏的觀測視場來說是一個好消息。該方法有望為傳統(tǒng)PSF的插值方法提供額外補充，為PSF插值提供更好的限制。(記者 沈春蕾)
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